XRF(X-선 형광) 분석은 일반적으로 X-선 빔의 요구 사항을 수용하기 위해 32mm 또는 40mm의 펠릿 직경을 사용합니다.이러한 크기는 시료의 균질성과 안정성을 유지하면서 정확한 측정을 위한 충분한 공간을 보장합니다.펠릿은 일반적으로 유압, 수동 또는 자동 프레스를 사용하여 준비되며, 구조적 지지를 위해 바인더 또는 알루미늄 컵을 추가하기도 합니다.프레스 공정(10~40톤)은 균일한 밀도를 생성하고 입자 크기 영향을 줄이며 내구성을 개선하여 일관된 분석 결과를 얻을 수 있도록 정밀도를 향상시킵니다.
요점 설명:
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XRF 분석을 위한 표준 펠릿 직경
- 가장 일반적인 펠릿 직경은 다음과 같습니다. 32mm 및 40mm .이 치수는 X-선 빔이 샘플과 균일하게 상호작용할 수 있는 적절한 표면적을 제공하여 가장자리 효과를 최소화하고 신뢰할 수 있는 데이터를 보장합니다.
- 이질적인 샘플의 경우 대표성을 높이기 위해 더 큰 직경(예: 40mm)이 선호될 수 있지만, 균질한 재료의 경우 32mm면 충분한 경우가 많습니다.
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프레싱 방법 및 장비
- 유압 프레스:처리량이 많은 실험실에 효율적이며, 균일한 펠릿 밀도를 위해 일관된 압력(일반적으로 10~40톤)을 제공합니다.
- 수동 프레스:비용 효율적이지만 노동 집약적이며 소량 애플리케이션에 적합합니다.
- 자동 프레스:정밀도와 작업자 개입을 최소화하여 반복성을 보장하는 데 이상적입니다.
- 압력 요구 사항은 다양합니다: 10~20톤 대부분의 시료에는 충분하지만, 까다로운 시료(예: 경질 광물)는 최대 40톤 .
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펠렛 준비 기술
- 직접 압착:응집력 있는 재료에 적합한 압축 파우더 단독.
- 바인더 지원:혼합 파우더 20-30% 셀룰로오스/왁스 바인더 XRF 신호를 방해하지 않고 펠릿 무결성을 향상시킵니다(바인더는 XRF 투명).
- 알루미늄 컵 방식:깨지기 쉬운 펠릿을 감싸서 분석을 위한 평평하고 안정적인 표면을 보장합니다.
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프레스 펠릿의 장점
- 균질성:균일한 밀도로 측정 변동성 감소.
- 입자 크기 완화:압축으로 입자 크기가 일정하지 않은 영향을 최소화합니다.
- 내구성:취급 및 반복 분석을 견디는 안정적인 펠릿.
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구매자를 위한 실용적인 고려 사항
- 다이 선택:다이 직경(32mm/40mm)을 빔 크기와 샘플 유형에 맞춥니다.
- 처리량 요구 사항:자동화된 시스템은 대량 실험의 시간을 절약하고, 수동 옵션은 예산이 제한된 설정에 적합합니다.
- 바인더 선택:오염을 방지하기 위해 시료 화학 물질과의 호환성을 보장합니다.
이러한 요소들이 종합적으로 XRF 결과를 최적화하여 분석 정밀도와 운영 효율성의 균형을 맞춥니다.펠릿 두께가 미량 원소의 검출 한계에 어떤 영향을 미칠 수 있는지 고려해 보셨나요?
요약 표:
| 주요 측면 | 세부 정보 |
|---|---|
| 표준 펠릿 직경 | 32mm(동종 샘플) 또는 40mm(이기종 샘플) |
| 압착 방법 | 유압(10-40톤), 수동(저용량) 또는 자동화(고정밀) |
| 펠렛 준비 | 직접 압착, 바인더 보조(20-30% 셀룰로오스/왁스) 또는 알루미늄 컵 사용 |
| 장점 | 균질성, 입자 크기 감소 효과, 반복 분석을 위한 내구성 |
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