배터리 테스트 지그
대형 배터리 테스트용 원통형 셀 토글 클램프 테스트 치구
품목 번호 : JA11
가격은 다음을 기준으로 달라집니다 사양 및 사용자 정의
- 연속 테스트 전류
- 100 A
- 지그 내부 저항
- < 0.2 mΩ
- 대상 셀 크기
- 60140 원통형 (8 mm 폴)
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제품 개요

이 원통형 셀 토글 클램프 테스트 치구는 60140 규격과 같은 대형 원통형 셀을 위해 특별히 설계된 고성능 전기 테스트 장치입니다. 첨단 배터리 연구, 파일럿 규모의 셀 특성 분석 및 고율 전기화학 테스트의 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계되었으며, 견고한 기계식 토글 클램핑과 저저항 전류 집전체를 결합하여 신속하고 반복 가능하며 매우 신뢰할 수 있는 전기적 접촉을 보장합니다.
최소한의 열 발산으로 최대 100A의 연속 전류 부하를 수용하도록 제작된 이 장비는 배터리 연구소, 전기차 파워트레인 개발 시설, 그리드 규모 에너지 저장 파일럿 라인 및 산업 품질 보증 부서에서 사용됩니다. 고정밀 기계식 가이드는 셀 단자 전체에 균일한 축 방향 압축을 보장하여 접촉 변동성을 제거하고 대량 테스트 중에 민감한 셀 극 구조를 보호합니다.
프리미엄 산업용 절연 재료와 고강도 금속 구조 부품으로 제작된 이 치구는 탁월한 구조적 강성과 장기적인 치수 안정성을 보장합니다. DC 내부 저항(DCIR) 측정, 고율 충방전 사이클링 또는 자동화된 셀 등급 분류 등 어떤 용도로 사용하든, 이 시스템은 까다로운 실험실 및 산업 환경에서 수천 번의 연속 테스트 사이클 동안 0.2밀리옴 미만의 일관된 접촉 임피던스를 유지합니다.
주요 특징
- 고전류 토글 클램핑 키네마틱스: 통합된 산업용 토글 클램프 메커니즘은 단일 동작으로 신속한 셀 삽입 및 클램핑을 가능하게 하며, 이동식 전류 핀을 통해 일정한 축 방향 힘을 가하는 동시에 반대편 핀을 고정하여 기계적 반복성을 극대화합니다.
- 진정한 4선식 켈빈 센싱 아키텍처: 독립적인 전류 여기 및 전압 센싱 경로가 접촉 저항을 측정 회로에서 분리하여 마이크로옴 수준의 DCIR 및 AC 임피던스 특성 분석을 위한 깨끗한 전압 신호 획득을 제공합니다.
- 헤비듀티 저저항 전류 프로브: 프리미엄 인청동 및 베릴륨 구리로 제작된 12mm 이상의 대형 전류 프로브를 특징으로 하며, 인터페이스 저항을 최소화하기 위해 5mm 압축 시 4kg 이상의 접촉력을 제공합니다.
- 전용 스프링 장착 전압 핀: 2mm 미만의 외경을 가진 중앙 집중식 인청동 전압 센싱 프로브는 2mm 압축 시 200g의 독립적인 접촉력을 발휘하여 직접적이고 비침습적인 단자 표면 전압 추적을 보장합니다.
- 정밀 60140 셀 중심 정렬: 통합된 중심 위치 지정 블록은 60140 원통형 셀을 단자 접촉 핀과 정확한 동축 정렬로 유도하여 8mm의 평평하고 매끄러운 셀 극과의 반복적인 결합을 보장합니다.
- 100A 연속 부하 시 15°C 미만의 온도 상승: 우수한 접촉 단면적과 최적화된 전류 경로를 통해 100A 연속 테스트 중 치구 온도 상승을 15°C 미만으로 제한하여 열로 인한 측정 드리프트 및 셀 가열을 방지합니다.
- 헤비듀티 금도금 프로브 표면: 프로브는 갈바닉 부식을 방지하고 표면 산화를 최소화하며 장기간의 사이클링 간격 동안 안정적인 접촉 인터페이스 저항을 유지하기 위해 4mil 이상의 두꺼운 금도금 처리가 되어 있습니다.
- M10 단자 연결이 가능한 견고한 절연 베이스: 복합 비전도성 치구 베이스는 대용량 배터리 사이클러 케이블에 직접 연결할 수 있는 헤비듀티 M10 단자 러그를 통합하고 있으며, 전용 벤치탑 나사 장착 지점을 통해 고정됩니다.
적용 분야
| 적용 분야 | 설명 | 주요 이점 |
|---|---|---|
| 60140 원통형 셀 R&D | 차세대 대형 원통형 배터리 화학 및 구조 설계의 정밀 전기화학적 특성 분석. | 치구로 인한 측정 오류 없이 진정한 4선식 켈빈 전압 정확도 제공. |
| 고율 방전 및 급속 충전 테스트 | 100A 연속 사이클링 프로토콜 하에서의 고전류 열 및 전기 성능 평가. | 낮은 온도 상승(< 15°C)을 유지하여 전기화학적 무결성 및 열 데이터 타당성 보호. |
| 직류 내부 저항(DCIR) 스크리닝 | 제조된 셀 배치 전반에 걸친 고처리량 펄스 전력 및 내부 저항 벤치마킹. | 안정적인 0.2mΩ 미만의 치구 저항으로 반복 가능한 셀 간 분류 해상도 보장. |
| 셀 포메이션 및 사전 등급 분류 | 파일럿 제조 라인 및 프로토타이핑 시설에서의 라인 말단 품질 검증 및 용량 분류. | 신속한 토글 클램프 결합으로 수동 로딩 및 언로딩 사이클 시간 단축. |
| 전기화학 임피던스 분광법(EIS) | 사전 응력이 가해진 기계적 클램핑 조건 하에서의 광대역 주파수 임피던스 특성 분석. | 독립적인 스프링 장착 전압 프로브가 접촉 임피던스를 셀 전체 응답에서 분리. |
| 가속 수명 및 열화 연구 | 다양한 환경 챔버 온도 하에서의 장기 연속 사이클링 테스트. | 두꺼운 금도금 베릴륨 구리 접점이 접촉 열화 및 열 산화에 저항. |
기술 사양
| 사양 매개변수 | 기술 세부 정보 / 값 |
|---|---|
| 제품 품번 | JA11 |
| 대상 셀 폼 팩터 | 60140 원통형 셀 |
| 셀 단자 / 극 직경 호환성 | 8 mm (평평하고 매끄러운 단자 표면) |
| 클램핑 메커니즘 | 수동 산업용 토글 클램프 |
| 키네마틱 아키텍처 | 고정식 전류 핀 단부 1개, 이동식 전류 핀 단부 1개 |
| 연속 테스트 전류 | 100 A |
| 전체 치구 내부 저항 | < 0.2 mΩ |
| 작동 온도 상승 | 100 A 연속 부하 시 < 15 °C |
| 전류 프로브 직경 | > 12 mm |
| 전류 프로브 재질 | 인청동 / 베릴륨 구리 |
| 전류 프로브 접촉 스프링 힘 | 5 mm 압축 시 > 4 kg (> 40 N) |
| 전류 프로브 표면 도금 | 금도금 > 4 mil |
| 전압 프로브 직경 | < 2 mm |
| 전압 프로브 재질 | 인청동 |
| 전압 프로브 접촉 스프링 힘 | 2 mm 압축 시 200 g (약 2 N) |
| 전원 케이블 연결 인터페이스 | M10 나사산 스터드 / 단자 러그 |
| 구조 재질 구성 | 고강도 유전체 절연 복합재 + 정밀 가공 금속 하드웨어 |
| 셀 위치 지정 메커니즘 | 통합 중심 정렬 블록 |
| 베이스 장착 방식 | 직접 벤치탑 나사 고정 |
이 제품을 선택해야 하는 이유
- 고전류 무결성을 위해 설계됨: 과열되기 쉬운 일반 테스트 클립과 달리, 이 치구는 100A 연속 전류를 15°C 미만의 온도 상승으로 유지하도록 특별히 제작되어 안전성과 데이터 정확성을 유지합니다.
- 정밀 클램핑 반복성: 기계식 토글 링크와 스프링 장착 베릴륨 구리 전류 프로브가 결합되어 4kg 이상의 보정된 힘을 가함으로써 교대 근무 전반에 걸쳐 작업자 의존적인 접촉 변동을 제거합니다.
- 대형 셀 최적화: 8mm 극을 가진 60140 원통형 셀을 위해 맞춤 가공되었으며, 통합된 중앙 정지 장치가 즉각적이고 자동 정렬되는 셀 배치를 보장하여 처리량을 높입니다.
- 우수한 내식성 및 수명: 고마모 접촉 표면 전체에 걸친 두꺼운 금도금(> 4 mil)은 산화 및 프레팅 마모를 방지하여 수년간의 일상적인 작동 중에도 0.2mΩ 미만의 일관된 접촉 저항을 보장합니다.
- 모듈식 및 견고한 벤치탑 통합: 견고한 유전체 프레임과 헤비듀티 M10 단자는 안전한 벤치탑 나사 장착을 가능하게 하여 실험실 테스트 벤치 및 환경 챔버에 깔끔하게 통합됩니다.
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