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정밀 LCR 디지털 브리지 미터 10 Hz ~ 1 MHz 부품 임피던스 분석기

배터리 테스터

정밀 LCR 디지털 브리지 미터 10 Hz ~ 1 MHz 부품 임피던스 분석기

품목 번호 : CD10

가격은 다음을 기준으로 달라집니다 사양 및 사용자 정의


테스트 주파수 범위
10 Hz – 1 MHz (연속, 1 mHz 해상도)
기본 측정 정확도
0.05%
최대 측정 속도
최대 200회 측정/초 (≥1 kHz)
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제품 개요

Product image 1

이 정밀 디지털 LCR 브리지 미터는 자동 평형 브리지 원리를 기반으로 설계된 고급 전자 부품 및 재료 파라미터 분석기입니다. 10 Hz에서 1 MHz까지 연속적으로 조정 가능한 테스트 주파수 스펙트럼, 0.05%의 기본 측정 정확도, 6.5자리 디스플레이 해상도를 갖춘 이 시스템은 계측 등급의 임피던스 특성 분석을 제공합니다. 이 아키텍처는 자동 레벨 제어(ALC), 다중 주파수 리스트 스윕 및 자동 분류 기능을 통합하여 모든 기본 수동 소자 파라미터에 대해 완벽하고 재현 가능하며 고해상도의 데이터 획득을 보장합니다.

고수요 환경을 위해 설계된 이 장비는 고급 재료 연구, 유전 특성 프로파일링, 배터리 전극 임피던스 연구 및 반도체 부품 검증 분야의 핵심 분석 도구로 사용됩니다. 또한 높은 처리량과 신뢰할 수 있는 분류가 필수적인 자동화 생산 라인 및 수입 검사(IQC) 스테이션에서도 탁월한 성능을 발휘합니다. 이 시스템은 실험실 등급의 정밀 분석 기능과 고속 산업 제조 요구 사항 사이의 간극을 메워줍니다.

프리미엄 산업용 솔리드 스테이트 회로, 전환 가능한 신호 소스 임피던스(30 Ω 및 100 Ω), 256 포인트 주파수 보정이 포함된 포괄적인 개방/단락/부하 교정 루틴으로 구축된 이 장치는 우수한 측정 안정성을 유지합니다. 전자기 노이즈 및 작동 열 드리프트가 발생하기 쉬운 환경에서도 이 장비는 안정적이고 재현 가능한 결과를 제공하므로 엔지니어링 연구소 및 품질 보증 부서에 필수적인 자산입니다.

주요 특징

  • 자동 평형 브리지 코어 아키텍처: 광범위한 동적 임피던스 스펙트럼 전반에 걸쳐 뛰어난 0.05%의 기본 정확도와 6.5자리의 측정 해상도를 제공하여 연구 및 생산을 위한 정확한 데이터 충실도를 보장합니다.
  • 연속 광대역 주파수 범위: 1 mHz 해상도와 0.01% 주파수 정확도로 10 Hz에서 1 MHz까지 연속적인 주파수 커버리지를 제공하여 미세 단계 공진 추적 및 주파수 종속 부품 모델링을 가능하게 합니다.
  • 고속 처리량 획득 엔진: 최대 초당 200회(테스트 주파수 ≥1 kHz 시)의 측정 획득 속도와 20ms의 빠른 주기(≥100 Hz 시)를 달성하여 고속 자동 분류 시스템에 원활하게 통합됩니다.
  • 포괄적인 다중 파라미터 특성 분석: 인덕턴스(Lp, Ls), 커패시턴스(Cp, Cs), 저항(Rp, Rs), 임피던스(|Z|, Xs), 어드미턴스(|Y|, G, B), 위상각(θr, θd), 손실 계수(D) 및 품질 계수(Q)를 포함한 20가지의 서로 다른 파라미터 조합을 동시에 평가합니다.
  • 통합 듀얼 DC 바이어스 기능: -2V ~ +2V 전압 바이어스 및 -20mA ~ +20mA 전류 바이어스를 공급하는 내부 프로그래밍 가능 DC 바이어스 소스를 제공하며, 능동 반도체 및 편극 유전체 테스트를 위해 최대 ±60V의 외부 DC 바이어스 입력을 지원합니다.
  • 동적 자동 레벨 제어(ALC): 여기 신호 전압(0 ~ 2 Vrms) 및 전류(100 μArms ~ 20 mArms)를 능동적으로 조절하고 안정화하여 피시험체(DUT) 과부하를 방지하고 일정한 구동 레벨을 유지합니다.
  • 10포인트 다중 주파수 리스트 스윕: 사용자가 정의한 10개의 주파수, 전압 또는 전류 단계에서 자동 순차 테스트를 실행하여 동적 응답 곡선 및 주파수 분산 특성을 빠르게 캡처합니다.
  • 10-빈 분류 및 통계 비교기: 8개의 합격 빈, 1개의 불합격 빈, 1개의 보조 빈이 포함된 내장형 다채널 비교기와 실시간 카운팅 기능을 통해 품질 등급 분류 및 부품 분류를 간소화합니다.
  • 생생한 7인치 이중 언어 인터페이스: 영어와 중국어 운영 메뉴를 모두 지원하는 800×480 TFT LCD가 장착되어 명확한 파라미터 판독값, 막대 그래프 및 직관적인 조작 제어를 제공합니다.
  • 완벽한 산업용 통신 배열: GPIB, 이더넷 LAN, RS232C, USB 호스트, USB 장치 및 광절연 핸들러 인터페이스를 표준으로 제공하여 원격 자동화 및 완전한 SCADA/PLC 통합을 허용합니다.

응용 분야

응용 분야 설명 주요 이점
첨단 재료 및 유전체 연구 신규 세라믹, 폴리머 및 고체 전해질의 유전율, 손실 탄젠트 및 임피던스 스펙트럼 특성 분석. 10 Hz–1 MHz의 넓은 스윕 범위로 상전이, 완화 메커니즘 및 경계층 임피던스 식별.
배터리 및 에너지 저장 평가 배터리 분리막 및 전극 호일의 내부 저항(ESR), 접촉 임피던스 및 계면 커패시턴스 평가. 저주파 안정성과 1 mHz 해상도로 벌크 전해질 전도도에서 계면 전하 이동 저항을 분리.
정밀 수동 소자 품질 관리 적층 세라믹 커패시터(MLCC), 정밀 저항기 및 필름 커패시터의 고속 테스트 및 자동 분류. 200 meas/s 획득 속도와 10-빈 비교기로 수입 검사 및 생산 분류 시 처리량 극대화.
자기 코어 및 인덕터 프로파일링 가변 여기 전류 및 내부 DC 바이어스 전반에 걸친 품질 계수(Q), 인덕턴스(Ls/Lp) 및 AC 저항 측정. 프로그래밍 가능한 내부 및 외부 DC 바이어스 전류로 실제 작동 조건에서의 포화 및 투자율 분석 가능.
반도체 및 센서 특성 분석 가변 DC 바이어스 전위 하에서 버랙터, 다이오드, 압전 변환기 및 MEMS 장치의 임피던스 분석. 최대 ±60V의 외부 바이어스 지원으로 포괄적인 C-V 프로파일링 및 역방향 바이어스 커패시턴스 측정 가능.
자동화 SMT 생산 라인 산업용 버스 프로토콜을 통해 픽앤플레이스 핸들러에 직접 연결된 인라인 자동 테스트 및 실시간 합격/불합격 선별. 표준 핸들러, GPIB 및 LAN 인터페이스로 공장 자동화를 위한 노이즈 내성 및 밀리초 미만의 신호 제공.

기술 사양

파라미터 사양 상세
기본 제품 식별자 CD10
변형 모델 옵션 CD10-01 (10 Hz – 100 kHz)
CD10-02 (10 Hz – 200 kHz)
CD10-03 (10 Hz – 300 kHz)
CD10-05 (10 Hz – 500 kHz)
CD10-10 (10 Hz – 1 MHz)
주파수 해상도 및 정확도 1 mHz 해상도, 0.01% 정확도
기본 측정 정확도 0.05%
디스플레이 해상도 6½ 자리 (6.5 자리)
측정 파라미터 Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Rs-Xs, |Z|-θr, |Z|-θd, |Y|-θr, |Y|-θd, G-B
측정 속도 (≥100 Hz) 빠름: 50 meas/s (20 ms)
중간: 10 meas/s (100 ms)
느림: 1.25 meas/s (800 ms)
사용자 정의 측정 속도 (≥1 kHz) 0.5 meas/s ~ 200 meas/s 범위에서 사용자 프로그래밍 가능
커패시턴스 표시 범위 (Cp, Cs) 0.001000 pF ~ 99.9999 F
인덕턴스 표시 범위 (Lp, Ls) 0.001000 nH ~ 99.9999 kH
저항 및 임피던스 범위 (Rp, Rs, |Z|, Xs) 0.001000 mΩ ~ 999.999 MΩ
컨덕턴스 및 어드미턴스 범위 (G, B, |Y|) 0.001000 μS ~ 999.999 kS
위상각 범위 (θr / θd) θr: ±0.000001 rad ~ 3.14159 rad
θd: ±0.000001 deg ~ 179.9999 deg
손실(D) 및 품질 계수(Q) 범위 D: ±0.000001 ~ 9.99999
Q: ±0.001 ~ 99999.9
테스트 신호 전압 범위 0 ~ 2.0 Vrms (해상도: 1 mV, 정확도: 5% + 5 mV)
테스트 신호 전류 범위 100 μArms ~ 20 mArms (해상도: 10 μA, 정확도: 5% + 50 μA)
내부 DC 바이어스 소스 전압: -2.0 V ~ +2.0 V
전류: -20.0 mA ~ +20.0 mA
외부 DC 바이어스 입력 -60.0 V ~ +60.0 V
신호 소스 출력 임피던스 30 Ω 또는 100 Ω 선택 가능
비교기 및 분류 기능 10개 빈: 8개 합격 빈, 1개 불합격 빈, 1개 보조 빈(통계 카운팅 포함)
수학적 연산 직접 판독, 델타(절대값 차이), 델타%(백분율 차이)
교정 및 보정 자체 교정, 개방 회로, 단락 회로, 부하 보정, 100개 사용자 주파수 포인트, 256개 지정 주파수 보정 세트
리스트 스윕 기능 10포인트 프로그래밍 가능 다중 파라미터 리스트 스윕
디스플레이 화면 7.0인치 TFT LCD (800 × 480 해상도), 중국어/영어 인터페이스
메모리 및 데이터 저장 내부 비휘발성 메모리 및 USB 대용량 저장 장치 지원
원격 제어 인터페이스 GPIB, 이더넷(LAN), RS232C, USB 호스트, USB 장치, 핸들러
전원 공급 요구 사항 220V AC ±10%, 50 Hz
소비 전력 < 20 W
작동 온도 범위 0°C ~ 40°C
물리적 치수 (W × D × H) 330 mm × 285 mm × 136 mm
순중량 3.6 kg

이 제품을 선택해야 하는 이유

  • 정밀 계측 엔지니어링: 0.05%의 기본 측정 정확도와 6.5자리의 해상도를 제공하는 자동 평형 브리지 코어로 설계되어 연구 등급 및 상업용 데이터에 대한 절대적인 신뢰성을 제공합니다.
  • 완벽한 주파수 확장성: 100 kHz에서 1 MHz까지 1 mHz 해상도로 유연한 대역폭 옵션을 제공하여 조직이 실험실 예산 및 응용 요구 사항에 맞춘 정확한 주파수 범위를 선택할 수 있습니다.
  • 자동화 제조 준비 완료: 초당 200회 판독에 도달하는 획득 속도, 10-빈 하드웨어 분류 및 표준 핸들러/GPIB 연결성을 갖춘 이 시스템은 대량 부품 테스트 스테이션에 쉽게 통합됩니다.
  • 포괄적인 DC 바이어스 및 ALC 제어: 통합 내부 바이어스, 외부 60V 바이어스 기능 및 동적 레벨링은 실제 작동 스트레스 하에서 민감한 반도체, 커패시터 및 유도 부품의 안정적인 테스트를 보장합니다.
  • 신뢰할 수 있는 장기 지원: 재료 테스트 및 실험실 계측 분야에서 KINTEK의 기술 전문 지식을 바탕으로 지원되며, 신속한 응용 가이드, 교정 지원 및 장기적인 하드웨어 신뢰성을 보장합니다.

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