배터리 테스터

벤치탑 디지털 LCR 브리지 및 DCR 부품 측정기

품목 번호 : CD07

가격은 다음을 기준으로 달라집니다 사양 및 사용자 정의

측정 대역폭: 10 Hz - 100 kHz (연속 1 Hz 해상도)
기본 측정 정확도: 0.20%
주 매개변수 측정 범위: L: 0.001μH-9999H, C: 0.001pF-99.99mF, R/DCR: 0.0001Ω-99.99MΩ

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제품 개요

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이 고정밀 벤치탑 디지털 LCR 브리지 장비는 고급 자동 밸런싱 브리지 아키텍처를 기반으로 설계되어 수동 부품, 능동 재료 및 전기화학 시스템 전반에 걸쳐 타협 없는 임피던스 및 매개변수 특성 분석을 제공합니다. 최대 100kHz의 대역폭에서 1Hz의 연속 주파수 분해능으로 작동하며, 0.2%의 기본 측정 정확도를 제공합니다. 전용 직류 저항(DCR) 분석과 전해 커패시터 특성 분석 모드를 통합함으로써, 이 장비는 엄격한 분석 실험실 및 고처리량 전자 제조 환경을 위한 필수 테스트 기준을 확립합니다.

부품 평가 및 자동화된 품질 워크플로우를 간소화하도록 설계된 이 장비는 내장형 다단계 분류 비교기, 프로그래밍 가능한 바이어스 전압 생성 및 다목적 테스트 신호 레벨을 특징으로 합니다. 배터리 연구 실험실, 전자 부품 제조 라인, 수입 검사(IQC) 스테이션 및 정밀 센서 제조 시설 전반에서 중요한 기능을 수행합니다. 유연한 트리거 제어와 결합된 고속 샘플링 기능은 브리지가 수동 벤치탑 진단에서 완전 자동화된 핸들러 구동 검사 스테이션으로 원활하게 전환되도록 보장합니다.

산업용 전자기 차폐, 견고한 프런트엔드 아날로그 신호 컨디셔닝 및 포괄적인 개방/단락 픽스처 보정 기능을 갖춘 이 테스트 장비는 까다로운 생산 교대 근무 중에도 우수한 데이터 안정성과 반복성을 유지합니다. 3.5인치 TFT 컬러 디스플레이, 듀얼 5자리 매개변수 판독값 및 표준 SCPI 호환 통신 인터페이스는 연구원과 테스트 엔지니어에게 최고의 측정 신뢰성, 완전한 추적 문서화 및 신속한 시스템 통합을 제공합니다.

주요 특징

자동 밸런싱 브리지 아키텍처: 고급 자동 밸런싱 브리지 회로를 갖춘 4단자 켈빈 측정 토폴로지를 구현하여 리드 임피던스와 접촉 저항을 효과적으로 제거하고 넓은 동적 범위에서 0.2%의 기본 측정 정확도를 보장합니다.
연속 주파수 및 레벨 제어: 1Hz 미세 단계 튜닝이 가능한 최대 100kHz의 테스트 주파수 기능과 1mV 단위로 10mV에서 2000mV까지 조절 가능한 AC 여자 신호 레벨을 제공하여 정확한 작동 조건에서 부품 프로파일링이 가능합니다.
통합 DCR 및 전해 테스트: 기본 직류 저항(DCR) 모드와 전용 전해 커패시터 측정 알고리즘을 갖추고 있어 외부 신호 소스나 보조 측정기 없이도 포괄적인 수동 부품 특성 분석이 가능합니다.
조절 가능한 내부 DC 바이어스 소스: 10mV에서 1500mV까지(1mV 분해능) 프로그래밍 가능한 통합 DC 바이어스 출력을 포함하여 정확한 커패시턴스 전압 계수 분석, 반도체 접합 평가 및 편극 유전체 테스트를 용이하게 합니다.
고급 5-빈 비교기 및 분류: 음향 알람과 -50%에서 +50%까지 조절 가능한 스크리닝 허용 오차 제한을 갖춘 하드웨어 구동 5-빈 분류(3개의 합격 빈, 1개의 불합격 빈, 1개의 보조 빈)를 특징으로 하여 생산 라인의 분류 효율을 극대화합니다.
고속 측정 엔진: 2회/초(느림), 4회/초(중간), 8회/초(빠름)의 선택 가능한 획득 속도를 제공하여 작업자가 빠른 제조 처리량과 초저잡음 분석 정밀도 사이의 정확한 균형을 최적화할 수 있습니다.
포괄적인 픽스처 보정: 전체 범위의 개방 회로 및 단락 회로 보정 루틴을 지원하여 부유 커패시턴스, 기생 인덕턴스 및 픽스처 리드 저항을 제거하여 실험실급 측정 무결성을 유지합니다.
직관적인 디스플레이 및 통계 로깅: 3.5인치 16M 컬러 TFT 화면을 통해 5자리 주/보조 매개변수를 동시에 시각화하고, 실시간 통계 로깅(최대, 최소, 평균) 및 이중 언어 시스템 펌웨어 전환을 지원합니다.
광범위한 산업용 연결성: 표준 SCPI 명령 구문을 지원하는 표준 USB 장치, RS-232(또는 RS-485) 및 핸들러 인터페이스를 갖추고 있으며, 자동 테스트 장비(ATE) 통합을 위해 GPIB 및 USB 호스트로 확장할 수 있습니다.

응용 분야

응용 분야	설명	주요 이점
배터리 전극 및 접점 테스트	배터리 탭 및 셀 어셈블리의 접촉 저항, 집전체 호일 임피던스 및 직류 저항(DCR)을 특성화합니다.	에너지 저장 재료 전반의 낮은 내부 저항과 우수한 전도성을 보장하여 열 폭주를 방지합니다.
수동 부품 제조	표면 실장 인덕터, 정밀 박막 저항기 및 다층 세라믹 커패시터(MLCC)의 고속 분류 및 검증.	자동 핸들러 인터페이스를 통해 신속한 5-빈 적격성 평가를 제공하여 검사 주기 시간을 크게 단축합니다.
전해 커패시터 검증	내부 DC 바이어스 전압 하에서 등가 직렬 저항(ESR), 손실 계수(tan δ / D) 및 편극 커패시턴스를 평가합니다.	결함이 있는 유전체 부품이 전력 전자 어셈블리에 유입되는 것을 방지하여 현장 신뢰성을 향상시킵니다.
자기 재료 특성 분석	스윕 주파수 전반에서 페라이트 코어, 초크 및 고주파 펄스 변압기의 코어 손실, 인덕턴스(L) 및 품질 계수(Q)를 측정합니다.	스위치 모드 전원 설계를 위한 최적의 자기 포화 및 고주파 응답 경계를 식별합니다.
수입 검사 (IQC)	공급업체 사양 대비 수입 수동 전자 부품에 대한 신속한 매개변수 스크리닝 및 허용 오차 검증(-50% ~ +50%).	보드 조립 전 사양 외 배치를 차단하여 후속 제조 재작업 및 비용을 제거합니다.
압전 및 세라믹 센서 R&D	연속 주파수 대역에서 임피던스(Z), 위상각(θ) 및 리액턴스(X)를 프로파일링하여 기본 공진 지점을 정확히 찾아냅니다.	음향 변환기 및 기능성 세라믹 매핑에 필요한 1Hz의 미세 분해능과 0.2%의 정밀도를 제공합니다.
반도체 패키지 테스트	제어된 AC 구동 레벨 하에서 리드 프레임 저항, 기생 패키징 인덕턴스 및 핀 간 누설을 평가합니다.	고급 반도체 패키징 아키텍처에서 고주파 기생 신호 왜곡을 최소화합니다.

기술 사양

사양 매개변수	고정 주파수 시리즈 (CD07-4401 / CD07-4402 / CD07-4410)	연속 주파수 시리즈 (CD07-4501 / CD07-4502 / CD07-4510)
기본 모델 식별자	CD07-4401: 10개 고정 지점 (100 Hz – 10 kHz) CD07-4402: 12개 고정 지점 (100 Hz – 20 kHz) CD07-4410: 16개 고정 지점 (100 Hz – 100 kHz)	CD07-4501: 10 Hz – 10 kHz (연속, 1 Hz 단계) CD07-4502: 10 Hz – 20 kHz (연속, 1 Hz 단계) CD07-4510: 10 Hz – 100 kHz (연속, 1 Hz 단계)
기본 측정 정확도	0.20%	0.20%
디스플레이 유형 및 해상도	3.5인치 TFT LCD, 480 × 320 해상도, 16M 색상	3.5인치 TFT LCD, 480 × 320 해상도, 16M 색상
디스플레이 자릿수	주 매개변수: 5자리; 보조 매개변수: 5자리	주 매개변수: 5자리; 보조 매개변수: 5자리
주 매개변수	L (인덕턴스), C (커패시턴스), R (저항), Z (임피던스)	L (인덕턴스), C (커패시턴스), R (저항), Z (임피던스)
보조 매개변수	X (리액턴스), D (손실 계수), Q (품질 계수), θ (위상각), ESR (등가 직렬 저항)	X (리액턴스), D (손실 계수), Q (품질 계수), θ (위상각), ESR (등가 직렬 저항)
인덕턴스 측정 범위 (L)	0.001 μH – 9999 H	0.001 μH – 9999 H
커패시턴스 측정 범위 (C)	0.001 pF – 99.99 mF	0.001 pF – 99.99 mF
저항 측정 범위 (R / DCR)	0.0001 Ω – 99.99 MΩ	0.0001 Ω – 99.99 MΩ
측정 속도	느림: 2회/초; 중간: 4회/초; 빠름: 8회/초	느림: 2회/초; 중간: 4회/초; 빠름: 8회/초
테스트 신호 여자 레벨	6개 고정 레벨: 0.1 V, 0.3 V, 0.6 V, 1.0 V, 1.5 V, 2.0 V	0.1 V – 2.0 V 연속 조절 가능, 1 mV 단계
신호 소스 출력 임피던스	선택 가능 300 Ω, 1000 Ω	선택 가능 300 Ω, 1000 Ω
내부 DC 바이어스 소스	0 mV – 1500 mV 조절 가능, 1 mV 단계	0 mV – 1500 mV 조절 가능, 1 mV 단계
범위 선택 모드	자동 범위 및 수동 범위 잠금	자동 범위 및 수동 범위 잠금
보정 기능	풀 스케일 개방 회로 및 단락 회로 제로 클리어링	풀 스케일 개방 회로 및 단락 회로 제로 클리어링
스크리닝 및 허용 오차 설정	제한 범위: -50% ~ +50%; 고정 표준 지점: 1%, 5%, 10%, 20%	제한 범위: -50% ~ +50%; 고정 표준 지점: 1%, 5%, 10%, 20%
비교기 분류	5개 빈: 3개 적격(합격) 빈, 1개 부적격(불합격) 빈, 비퍼 알람이 있는 1개 보조 빈	5개 빈: 3개 적격(합격) 빈, 1개 부적격(불합격) 빈, 비퍼 알람이 있는 1개 보조 빈
데이터 로깅 및 통계	최대, 최소, 평균값 기록	최대, 최소, 평균값 기록
명령 세트 및 프로토콜	표준 SCPI 프로토콜	표준 SCPI 프로토콜
표준 통신 인터페이스	RS-232 (또는 RS-485), USB 장치, 핸들러	RS-232 (또는 RS-485), USB 장치, 핸들러
옵션 통신 인터페이스	GPIB (IEEE-488), USB 호스트	GPIB (IEEE-488), USB 호스트
전원 공급 장치 요구 사항	220 V AC ±10% 또는 110 V AC ±10%, 45 Hz – 65 Hz	220 V AC ±10% 또는 110 V AC ±10%, 45 Hz – 65 Hz
소비 전력	< 10 W	< 10 W
작동 환경	온도: 10°C ~ +40°C; 습도: ≤ 90% RH (0°C ~ 40°C에서)	온도: 10°C ~ +40°C; 습도: ≤ 90% RH (0°C ~ 40°C에서)
보관 환경	온도: -10°C ~ +60°C	온도: -10°C ~ +60°C
포함된 표준 액세서리	3코어 전원 케이블 (30A51), 4단자 켈빈 테스트 케이블 (35A51), 사용자 매뉴얼	3코어 전원 케이블 (30A51), 4단자 켈빈 테스트 케이블 (35A51), 사용자 매뉴얼
옵션 테스트 픽스처 및 케이블	GPIB 케이블 (32P01), RS-232 직렬 케이블 (32P04), USB 데이터 케이블 (32P05), 2m/4m 연장 테스트 케이블 (35P01), 리드형 켈빈 테스트 픽스처 (35A52), SMD 패치 부품 픽스처 (35P02), 4선 LCR SMD 핀셋/펜 (35P03), 4단자 쌍 켈빈 픽스처, 금도금 단락 플레이트 (35A53)	GPIB 케이블 (32P01), RS-232 직렬 케이블 (32P04), USB 데이터 케이블 (32P05), 2m/4m 연장 테스트 케이블 (35P01), 리드형 켈빈 테스트 픽스처 (35A52), SMD 패치 부품 픽스처 (35P02), 4선 LCR SMD 핀셋/펜 (35P03), 4단자 쌍 켈빈 픽스처, 금도금 단락 플레이트 (35A53)

이 제품을 선택해야 하는 이유

탁월한 계측 무결성: 0.2% 기본 정확도를 갖춘 정밀 자동 밸런싱 아날로그 프런트엔드를 중심으로 구축된 이 장비는 과학 논문 및 산업 규정 준수에 필수적인 안정적이고 드리프트 없는 임피던스 측정을 보장합니다.
DCR 및 AC 임피던스를 위한 이중 목적 범용성: 고해상도 직류 저항(0.0001 Ω까지)과 최대 100kHz의 AC 임피던스 분석을 하나의 소형 장치에 통합하여 테스트 벤치를 통합하고 자본 투자를 절감합니다.
원활한 자동 제조 통합: 표준 핸들러, RS-232/485 및 USB 인터페이스와 강력한 SCPI 명령 파싱을 갖춘 이 시스템은 고속 분류기, 로봇 픽 앤 플레이스 라인 및 중앙 집중식 공장 실행 시스템에 쉽게 통합됩니다.
포괄적인 픽스처 및 액세서리 생태계: 4단자 켈빈 테스트 리드부터 SMD 패치 부품 핀셋 및 금도금 보정 플레이트에 이르기까지, 당사의 완전한 액세서리 제품군은 모든 부품 형상에서 기생 오차를 제거합니다.

오늘 당사 기술 엔지니어링 팀에 문의하여 맞춤형 견적을 받고, 사용자 지정 테스트 픽스처 구성을 요청하거나 이 벤치탑 디지털 브리지가 귀하의 테스트 워크플로우를 어떻게 최적화할 수 있는지 논의하십시오.