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듀얼 채널 DDS 함수 임의 파형 발생기 고정밀 신호 소스

배터리 테스터

듀얼 채널 DDS 함수 임의 파형 발생기 고정밀 신호 소스

품목 번호 : CD08

가격은 다음을 기준으로 달라집니다 사양 및 사용자 정의


샘플링 속도 및 수직 해상도
200 MSa/s, 13비트, 8kpts 메모리 깊이
최대 출력 주파수
최대 60 MHz (사인파)
통합 주파수 카운터
1 Hz ~ 100 MHz / 32비트 카운터
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제품 개요

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이 고성능 듀얼 채널 직접 디지털 합성(DDS) 함수 및 임의 파형 발생기는 까다로운 전자 특성 분석 및 고급 실험 워크플로우를 위한 신호 정밀도, 안정성 및 다재다능함을 제공합니다. 위상 동기화 기능을 갖춘 듀얼 독립 채널을 탑재하여 연구원과 품질 관리 엔지니어가 마이크로헤르츠 단위의 주파수 해상도로 표준 주기 파형, 복합 변조 신호 및 사용자 지정 임의 프로파일을 합성할 수 있습니다.

배터리 연구, 첨단 재료 특성 분석, 전력 전자 개발, 반도체 검증 및 센서 교정 전반에 걸친 통합을 위해 설계된 이 장치는 최대 60MHz까지 깨끗하고 왜곡이 적은 신호를 생성합니다. 선명한 3.5인치 480×320 컬러 TFT LCD 화면에 표시되는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스는 실험실 및 산업 테스트 환경 전반에서 빠른 매개변수 조정과 원활한 프로토콜 설정을 보장합니다.

모든 신호 출력에 대해 60초간의 완전한 단락 회로 복원력을 포함한 강력한 하드웨어 보호 기능과 산업용 등급의 부품으로 설계된 이 시스템은 장기적인 작동 반복성과 열 안정성을 보장합니다. 내장된 100MHz 하드웨어 주파수 미터와 32비트 카운터는 진단 워크플로우를 간소화하여 올인원 벤치탑 신호 생성 및 측정 플랫폼을 제공합니다.

주요 특징

  • 고충실도 DDS 신호 엔진: 200 MSa/s 샘플링 속도, 13비트 수직 해상도 및 8,192포인트 파형 저장 깊이를 결합하여 마이크로헤르츠 주파수 해상도로 순수하고 지터가 적은 아날로그 신호를 생성합니다.
  • 위상 동기화가 포함된 듀얼 독립 채널: 두 출력 채널 모두 완전히 독립적으로 작동하거나 0~359.9° 범위에서 0.1° 해상도로 위상이 고정되어 정밀한 차동, 직교 또는 다상 테스트가 가능합니다.
  • 광범위한 파형 라이브러리 및 사용자 지정 저장: 5개의 표준 파형, 32개의 내장형 특수 임의 파형, 최대 50개의 사용자 정의 임의 프로파일을 저장할 수 있는 내부 비휘발성 메모리 슬롯이 포함되어 있습니다.
  • 다목적 아날로그 및 디지털 변조 제품군: 복잡한 통신 및 자극 프로토콜을 위해 내부 및 외부 AM, FM, PM 아날로그 변조와 ASK, FSK 및 PSK 디지털 변조 방식을 지원합니다.
  • 포괄적인 스윕 및 버스트 작동: 트리거 가능한 내부, 외부 또는 수동 소스와 함께 선형 및 로그 주파수 스윕과 광범위한 버스트 생성 모드(1~65,535 사이클, 무한 또는 게이트)를 제공합니다.
  • 통합 100 MHz 주파수 카운터: 최대 100 MHz의 고정밀 주파수 분석, 최대 4,294,967,295까지의 32비트 이벤트 카운팅, 1 ns 해상도의 펄스 폭/주기 타이밍이 가능한 전용 하드웨어 측정 채널을 갖추고 있습니다.
  • 구성 가능한 에지 시간 펄스 생성: 디지털 장치 특성 분석을 위해 1 ns 정밀도로 최대 20 ns까지 펄스 폭을 독립적으로 제어할 수 있으며, 에지 전환 시간을 최대 20 ns까지 조정할 수 있습니다.
  • 선명한 그래픽 인터페이스 및 풍부한 연결성: 3.5인치 16비트 트루 컬러 TFT LCD(480×320 해상도), 이중 언어 메뉴, 자동 데이터 수집을 위한 표준 RS232 및 USB 장치 포트가 포함되어 있습니다.

애플리케이션

애플리케이션 설명 주요 이점
배터리 및 전기화학 임피던스 테스트 전기화학 셀 역학 및 계면 동역학을 분석하기 위해 매우 안정적인 저주파 정현파 및 임의 여기 신호를 생성합니다. 2 mVpp까지 정밀한 진폭 제어로 1 μHz까지 깨끗한 서브헤르츠 신호를 제공합니다.
반도체 및 센서 교정 센서 응답 곡선, ADC 선형성 및 연산 증폭기 임계값을 평가하기 위해 정밀한 펄스, 램프 및 아날로그 변조 신호를 제공합니다. 탁월한 진폭 평탄도(±0.4 dB)와 낮은 고조파 왜곡(<0.8%)으로 측정 아티팩트를 방지합니다.
전력 전자 및 게이트 드라이버 R&D 전력 반도체 스위치에 스트레스를 주기 위해 게이트 드라이브 펄스, 20 ns 미만의 전환 시간을 가진 구형파 및 특수 버스트 시퀀스를 시뮬레이션합니다. 높은 에지 전환 속도와 강력한 단락 출력 보호 기능으로 장비를 보호합니다.
통신 시스템 시뮬레이션 RF 프런트엔드 및 수신기 테스트를 위해 AM/FM/PM 변조 반송파와 함께 ASK, FSK 및 PSK 디지털 키잉 신호를 생성합니다. 다목적 내부 또는 외부 변조 제어로 최대 60 MHz까지 광범위한 반송파 주파수를 지원합니다.
초음파 및 압전 장치 구동 공진 변환기, 압전 액추에이터 및 음향 센서 전반에 걸쳐 위상 동기화된 듀얼 채널 여기를 제공합니다. 고해상도 0.1° 위상 조정으로 정밀한 다채널 공진 정렬을 용이하게 합니다.
학술 연구 및 자동화 테스트 벤치 대학 실험실 및 산업용 자동 테스트 장비(ATE)에서 다목적 신호 자극 및 자동 검증 소스로 사용됩니다. 표준 RS232/USB 인터페이스로 빠른 SCPI 명령 스크립팅 및 자동 데이터 로깅을 지원합니다.

기술 사양

모델 시리즈 / 품목 번호 CD08-15 CD08-25 CD08-40 CD08-60
정현파 주파수 범위 1 μHz ~ 15 MHz 1 μHz ~ 25 MHz 1 μHz ~ 40 MHz 1 μHz ~ 60 MHz
구형파 주파수 범위 1 μHz ~ 15 MHz 1 μHz ~ 15 MHz 1 μHz ~ 15 MHz 1 μHz ~ 15 MHz
삼각파 주파수 범위 1 μHz ~ 15 MHz 1 μHz ~ 15 MHz 1 μHz ~ 15 MHz 1 μHz ~ 15 MHz
펄스파 주파수 범위 100 μHz ~ 6 MHz 100 μHz ~ 6 MHz 100 μHz ~ 6 MHz 100 μHz ~ 6 MHz
임의 파형 범위 1 μHz ~ 6 MHz 1 μHz ~ 6 MHz 1 μHz ~ 6 MHz 1 μHz ~ 6 MHz
노이즈 대역폭 (-3dB) 7 MHz 대역폭 7 MHz 대역폭 7 MHz 대역폭 7 MHz 대역폭
주파수 해상도 1 μHz 1 μHz 1 μHz 1 μHz
주파수 정확도 ±5 ppm ±5 ppm ±5 ppm ±5 ppm
주파수 안정성 ±1 ppm / 3시간 ±1 ppm / 3시간 ±1 ppm / 3시간 ±1 ppm / 3시간

파형 및 출력 특성

사양 매개변수 기술 값 / 특성
파형 유형 정현파, 구형파, 삼각파, 펄스파, 노이즈, 임의 파형(DC 포함)
임의 파형 32개 내장 프로파일; 50개 사용자 정의 가능 저장 위치
파형 길이 8,192 포인트(8k 깊이)
샘플링 속도 200 MSa/s
수직 해상도 13비트
정현파 고조파 억제 ≥ 45 dBc (< 1 MHz); ≥ 40 dBc (1 MHz ~ 20 MHz)
총 고조파 왜곡(THD) < 0.8% (20 Hz ~ 20 kHz, 0 dBm)
구형파 상승/하강 시간 < 20 ns (오버슈트 < 5%)
구형파 듀티 사이클 범위 주파수 < 100 kHz: 1%–99%; 100 kHz ≤ 주파수 < 5 MHz: 20%–80%; 주파수 ≥ 5 MHz: 40%–60% (0.1% 해상도)
펄스 폭 및 에지 전환 펄스 폭 최소 20 ns (1 ns 해상도); 에지 전환 시간 최소 20 ns; 지터 6 ns + 주기의 0.1%
톱니파/램프 선형성 및 대칭성 선형성 ≥ 98% (0.01 Hz ~ 10 kHz); 대칭성 0.0% ~ 100.0% (0.1% 해상도)
출력 진폭 범위(50Ω 부하) 주파수 < 10 MHz: 2 mVpp ~ 20 Vpp; 10 MHz ≤ 주파수 < 30 MHz: 2 mVpp ~ 10 Vpp; 주파수 ≥ 30 MHz: 2 mVpp ~ 5 Vpp
진폭 해상도 및 정확도 1 mV 해상도; 정확도: ±(설정의 1% + 2 mVpp) (1 kHz 정현파, 0 오프셋, > 10 mVpp)
진폭 평탄도(ref 1 kHz, 1Vpp) ±0.4 dB (< 10 MHz); ±1.0 dB (≥ 10 MHz)
DC 오프셋 범위 및 해상도 진폭 > 0.1 V: ±10 Vpk (ac + dc); 2 mV < 진폭 ≤ 0.1 V: ±0.250 Vpk (ac + dc); 해상도: 1 mV
위상 조정 및 해상도 0° ~ 359.9° (0.1° 해상도)
출력 보호 및 임피던스 50 Ω ± 10% (일반); 출력은 최대 60초까지 단락 상태로부터 보호됨

변조, 스윕 및 버스트 사양

기능 유형 지원되는 사양
변조 채널 및 반송파 CH1 또는 CH2 (기본값 CH1); 정현파, 구형파, 램프, 펄스, 임의 파형(DC 제외)
AM 변조 소스: 내부/외부; 변조 파형: 정현파, 구형파, 삼각파, 램프; 변조 주파수: 2 mHz–20 kHz; 깊이: 0%–120%
FM 변조 소스: 내부/외부; 변조 파형: 정현파, 구형파, 삼각파, 램프; 변조 주파수: 2 mHz–20 kHz; 편차: 0 ~ 최대 반송파 주파수
PM 변조 소스: 내부/외부; 변조 파형: 정현파, 구형파, 삼각파, 램프; 변조 주파수: 2 mHz–20 kHz; 위상 편차: 0°–360°
ASK / FSK 변조 소스: 내부/외부; 변조 파형: 50% 구형파; 속도: 2 mHz–1 MHz; 깊이: 0 ~ 반송파 진폭 / FSK 키잉
PSK 변조 소스: 내부/외부; 변조 파형: 50% 구형파; 변조 속도: 2 mHz–1 MHz; 위상 편차: 0°–360°
스윕 기능 채널: CH1/CH2; 유형: 선형, 로그; 스윕 시간: 1 ms ~ 500.000 s; 방향: 정방향, 역방향
버스트 기능 펄스 카운트: 1 ~ 65,535 사이클, 무한, 게이트; 시작/정지 위상: 0°–360°; 내부 주기: 1 μs ~ 500 s
트리거 소스 및 입력 트리거: 내부, 외부, 수동; 입력 전압: 2 Vpp–20 Vpp (AC/DC); 펄스 폭: > 100 ns
아날로그 변조 입력 입력 임피던스: 1 MΩ; 전압 신호 범위: ±2.5 V (ac + dc)
SYNC 출력 TTL 호환, 50 Ω 임피던스, 상승/하강 < 25 ns, 최대 주파수 25 MHz

측정, 하드웨어 및 환경 사양

사양 매개변수 값 / 작동 범위
주파수 카운터 범위 1 Hz ~ 100 MHz (게이트 시간: 0.01 s ~ 10 s 연속 조정 가능)
카운터 용량 및 커플링 0 ~ 4,294,967,295 (32비트); 수동 카운팅 모드; AC 또는 DC 커플링 (입력: 2 Vpp ~ 20 Vpp)
주기 및 펄스 폭 측정 1 ns 해상도; 최대 측정 가능 기간: 20 s
디스플레이 화면 3.5인치 TFT LCD, 480 × 320 해상도, 16비트 트루 컬러, 이중 언어(EN/ZH) 메뉴 지원
통신 인터페이스 RS232 (표준), USB 장치 (표준), USB 호스트 (옵션)
전원 공급 전압 및 소비 전력 220V AC ± 10% 또는 110V AC ± 10% (옵션); 소비 전력 < 15 W
작동 및 보관 온도 작동: +10°C ~ +40°C; 비작동 / 보관: -10°C ~ +60°C
환경 습도 범위 ≤ 90% 상대 습도 (0°C ~ 40°C 범위 내)
단위 치수 및 무게 265 mm (W) × 105 mm (H) × 305 mm (D); 순중량: 2.6 kg
표준 포함 액세서리 모델 30A51 3코어 전원 코드 (1개), 모델 33A52 BNC 동축 케이블 (1개)

이 제품을 선택해야 하는 이유

  • 산업용 하드웨어 신뢰성: 프리미엄 DDS 합성 회로, 안정적인 수정 발진기 및 출력 단락 보호 기능을 사용하여 엄격한 일상 실험실 및 제조 요구 사항을 견딜 수 있도록 제작되었습니다.
  • 탁월한 다중 도메인 다재다능함: 듀얼 채널 임의 파형 생성, 아날로그/디지털 변조, 스윕, 버스트 생성 및 고주파 카운터 기능을 단일 소형 풋프린트에 결합했습니다.
  • 정밀 신호 순도: 낮은 총 고조파 왜곡(<0.8%), 빠른 펄스 전환(<20 ns) 및 미세 위상 동기화(0.1°)를 제공하여 연구급 설정에서 측정 불확실성을 제거합니다.
  • 턴키 실험실 통합: 표준 USB 장치 및 RS232 인터페이스는 자동화된 테스트 환경, 배터리 사이클링 랙 및 원격 컴퓨터 테스트 벤치와의 통합을 간소화합니다.

오늘 당사 기술 영업팀에 문의하여 견적을 요청하거나 귀하의 실험실을 위한 맞춤형 테스트 설정 솔루션에 대해 상담하십시오.

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